氯丁密封膠的內(nèi)聚破壞主要是由于氯丁密封膠材料的氧化水解造成氯丁密封膠內(nèi)部孔隙數(shù)目增加以及孔隙尺寸增大,。由內(nèi)聚破壞引起的氣體泄漏率主要與內(nèi)外兩側(cè)壓強差△P,、橫截面積5以及氯丁密封膠的厚度二有關(guān)，其表達式中,，Q,、為由內(nèi)聚破壞導致的氣體泄漏率，Pa " m丫s;Y為氣體擴散隨機系數(shù)Y一如ye6yyy ,6:分別為Y的均值和標準差;戶為孔隙內(nèi)平均壓力,，Pa;Y為氣體茹度,，Pa·S。

        邊界破壞主要是由于氯丁密封膠表面吸附能力降低造成氯丁密封膠與接觸件和殼體粘接界面的粘接力減小,。根據(jù)Roth密封理論-l,，密封件的邊界破壞引起的氣體泄漏率主要與氣體溫度T、單個氣體分子質(zhì)量m,、接觸面粗糙度H,、接觸周長密封件厚度、表面密封系數(shù)RS,、內(nèi)外兩側(cè)壓強差△p以及作用在密封件表面的應力,，有關(guān)，式中,，Q:為由邊界破壞導致的氣體泄漏率,，Pa無一N C1。了分別為I的均值和標準差,。

        根據(jù)Morse吸附理論[20和Maxwell模型[2G],，可確定密封件表面的應力，式中,，Z=,Z為待估參數(shù);,。為密封件灌裝在絕緣板之間的初始彈性應力，MPa;E,。為氯丁密封膠的彈性模量,，MPa;X為氯丁密封膠的茹度系數(shù)。

        電連接器用氯丁密封膠的泄漏率由內(nèi)聚破壞泄漏率和邊界破壞泄漏率組成,，依據(jù)未知內(nèi)聚破壞和邊界破壞的所占比例,，引入比例系數(shù)Z、Z,，則電連接器用氯丁密封膠的泄漏率退化軌跡模型為式中,，Q為氯丁密封膠氣體泄漏率初值，P1Q，為在t時刻下氯丁密封膠氣體泄漏率,，Pa"m3/s,。http://27950.cn/